蔡司ZEISS 用于材料研究的倒置显微镜Axio Observer

用于材料检验、开发和分析的倒置显微镜

利用倒置显微镜 Axio Observer 快速分析金相样品,即使在切换物镜和更换金相样品时也无需重新聚焦。

Axio Observer 将蔡司的光学品质和自动化组件结合在一起,使系统更稳定,重复操作更简便。

使用专用软件进行分析,比如非金属夹杂物和晶粒尺寸的分析测量。

Axio Observer 是开放的成像平台:按照目前的需求进行配置,无论何时分析研究需求有变化时,可根据新的需求升级系统。

 

金相分析中节省时间

 •  使用 Axio Observer 让样品制备和检测更省时。

 •  倒置设计利于与物镜的平行排列。

 •  在较短的时间内观察更多的样品:将样品放置在载物台上,一旦聚焦,无论再次改变放大倍数或更换样品都无需再次聚焦。

 

 

值得信赖的检测结果和优异的成像质量   

  Axio Observer 具有稳定的成像条件,特别是在高放大倍率工作时。

•  视场内的均匀照明可获得高质量的图像。Axio Observer 将蔡司的光学品质和自动化组件结合在一起,使系统更稳定重复操作更简便。

 •  使用专用软件对金相结构进行快速分析,比如非金属夹杂物和晶粒尺寸,多相分析。

 

系统升级

  使用 Axio Observer,按目前应用需求进行配置。

•  无论何时应用需求有所改变,可随时对系统进行升级。

•  选择编码组件或自动化组件以及一系列的配件 – 按应用需求获得合适的观察方式。

 

3种主机可选

Axio Observer 有3种不同的主机,可根据不同的自动化要求进行选择

 

 

观察方式的选择

•  明场和暗场中均匀以及无杂散光的成像背景 - 减少杂散光和色差。  

  配备偏光观察方式 - 利用固定式检偏器可360°旋转进行检测,或是利用具有全波段可旋转的旋转式检偏器。呈现各向异性样品的双反射和多色性,即使没有配备旋转载物台也可实现。

  利用圆微分干涉观察方式 (C-DIC),一种利用圆偏光原理的偏光元件。

               

               

           

 

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